物理金相
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设备资源
扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscopes)
参数:
技术指标
PHILIPS XL30扫描电子显微镜及EDAX DX-4能量色散谱仪(Specification)可同于固体物质的表面形貌观察和微区(~1μn)元素(B5~U92)定性、定量分析的一体化仪器
仪器基本参数:
1.二次电子分辨率:3.5nm
2.放大倍数:×10~×100000
3.能谱分辨率:138Kev
4.加速电压:1~35kv
应用范围
断口二次电子图像立体感强,放大倍数连续可调,分辨率高可直接进行断口分析其断裂性质及研究。
在冶金及材料科学领域可进行夹杂物,相分析,第二相组成及分析。 微小固体物质分析。刑侦残片分析μm及尺寸测量,(如:涂层、渗层微小颗粒等) 本仪器配备有经验丰富的资深研究人员。在金属材料,非金属、陶瓷材料,复合材料等领域进行失效分析,组织鉴别,表面形貌,腐蚀研究磨损研究中颇有建树。
 
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